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CX-118A晶振測試儀

CX-118A晶振測試儀

簡要描述:

CX-118A晶振測試儀
本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能

更新時間:2024-11-21

CX-118A晶振測試儀

本系列儀器采用倒數計數技術實現等精度測量。它測量精度高,靈敏度高,速度快,閘門時間可選;具有頻率測量、周期測量、PPM測量、分檔測量、上下限測量、累加計數等功能;中心頻率(標稱頻率)F0、分檔值Pr1~Pr8(ppm) 、上限頻率FU、下限頻率FL可任意設定并能存儲。該機前置電路有低通濾波器、衰減器等。特別適合晶體行業、郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業的生產和科研之用。
主要特征
1 .本機采用倒數計數技術,測量精度高,測量范圍寬,真正實現等精度測量,測量速度快,靈敏度高。
2 .采用單片微機技術進行周期頻率測量和智能化管理,使得儀器具有很高的可靠性和優良的性能/價格比。
3 .整機采用大規模集成電路設計,CPLD器件的運用,使儀器元器件大為減少,可靠性有了很大的提高,平均*工作時間≥10000h。

整機外型美觀大方,體積小,重量輕,使用方便。

CX-118A晶振測試儀 

技術參數

頻率測量:A通道:1Hz~100MHz;

B通道:100MHz~1.6GHz(選件)

周期測量:A通道:10ns~1s

PPM測量:-9999~9999ppm

上、下限測量:可根據用戶所設定的上限參數FU、下限參數FL來測量被測頻率是否超出上、下限,超限則報警。

分檔測量:根據用戶所設定的中心頻率F0自動進行分檔測量。分檔值:Pr1~Pr8可在1~999ppm之間任意設置

分檔檔數:以中心頻率F0為中點左右分成16檔

累加計數:計數容量:0~109-1 (選件)

計數方式:鍵控、門控或外門控可選。3.2 輸入特性

輸入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF

                 B通道: 50Ω3.2.2 輸入耦合方式:AC3.2.3 波形適應性:正弦波、脈沖波

輸入電壓動態范圍:

A通道:30mVrms~250Vp~pB通道: 30mVrms~1Vrms3.2.5 A通道低通濾波器:-3dB 帶寬約100kHz3.2.6 A通道衰減:×1或×203.3 測量誤差3.3.1 頻率或周期測量誤差:±時基誤差±觸發誤差±LSD100ns其中:LSD=─────×被測頻率(或被測周期)閘門時間觸發誤差:當被測信號的信噪比為40dB時,觸發誤差≤0.3%


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